Araştırma Alanı
· Metal-Yarıiletken kontakların elektriksel karakterizasyonu vemodellenmesi
· Metal-Yarıiletken kontakların organik/inorganik modifikasyonu
· III-V ve bunların üçlü bileşik yarıiletkenlerinin elektrikselve kimyasal özellikleri
· VEE Pro (Agilent) ile programlama.
Araştırma Deneyimi
· Sıcaklığa Bağlı Akım-Gerilim Ölçümleri (I-V-T),
· Sıcaklığa Bağlı Kapasite-Gerilim Ölçümleri (C-V-T),
· Kapasite- frekans Ölçümleri (C-f),
· Aktarma Uzunluğu Metodu Ölçümleri (TLM),
· VEE Pro (Agilent) ile Program Geliştirme ve Cihaz Kontrol veOtomasyonu,
· Fotolitografi için Maske Tasarımı (AutoCAD veya L-Edit),
· Atomik Kuvvet Mikroskopu (AFM) ile Yüzey Morfolojisi Araştırmaları,
· X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi ile Arayüz Araştırmaları,
· İnce film Biriktirme Teknikleri (Saçtırma, buharlaştırma vedönel kaplama),
· Metal-Yarıiletken kontakların organik modifikasyonu,
· Tek Kristal X-Işını Kırınımı;